Inspeção de desmontagem de chip

Anteriormente, a desmontagem de chips era verificada usando sensores de passagem pelo feixe. Devido aos chips cada vez mais miniaturizados e de baixo perfil, pode ser difícil detectar a desmontagem usando sistemas convencionais. A Série LJ-V é capaz de capturar precisamente o perfil da superfície do alvo, assim detectando confiavelmente a desmontagem, até mesmo em chips menores.