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Detecção da posição dos entalhes das pastilhas de silício

Position detection of wafer notches

O Sistema de visão detecta a posição rotacional dos entalhes das pastilhas de silício.

A resolução da câmera de 5 mega pixels e os algoritmos inclusos da ferramenta Trend Edge Stain possibilitam a detecção estável do entalhe e também a geração dos dados de posição e dimensionais.

Vantagens

Uma câmera de 2 mega-pixels era utilizada para detectar a posição do entalhe. Porém, a repetibilidade da câmera não era estável. Através da implementação do sistema da Série XG, de uma câmera de alta velocidade de 5 mega pixels e da nova ferramenta Trend Edge Stain, o entalhe era localizado de maneira estável.

CONHEÇA OS DETALHES SOBRE O PRODUTO

  • Alto desempenho, programação simples e interface amigável para qualquer usuário.

  • A série CV-5000 tem o maior número de tipos de câmeras de sua categoria, permitindo a seleção da câmera ideal para uma grande variedade de aplicações.

  • Fornece a máxima flexibilidade com uma ampla variedade de opções de câmeras, utilizando o mecanismo de processamento de imagens de maior desempenho da área.

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